Моделирование характеристик защитных диэлектрических покрытий

Автор(и)

  • Ігор Ростиславович Пархомей д.т.н., доцент кафедри ТК Національного техніч- ного університету України «Київський Політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського», Україна
  • Віталій Анатолійович Паюн начальник військово-облікового відділу Національного технічного університету України «Київський Політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського», Україна
  • Данило Олегович Сопільняк студент Національного технічного університету України «Київський Політехнічний інститут ім. Ігоря Сікорського», Україна

DOI:

https://doi.org/10.20535/1560-8956.32.2018.145621

Анотація

В данной статье представлено то как могут располагаться резонансные частоты диэлектрических слоёв. Решение этой задачи позволит ответить и на другой
важный вопрос: как могут располагаться частотные зоны поглощения (а следовательно и отражения) и какова их ширина. В предлагаемой статье даётся решение сформулированной выше задачи для простейшего интерференционного покрытия и следствия решения.

Посилання

В. В. Цветков, В. П. Демин, А. И. Куприянов. Радиоэлектронная борьба. Радиомаскировка и помехозащита. Вузовская книга - 2012.-240 с.

Коваль Ю. О., Милютченко І. О., Олейніков А. М., Шокало, В. М., Браїловський В. В., Бзовий Е. Г., Александров В. В. Основи теорії кіл, сигналів та процесів в системах технічного захисту інформації. НТМТ. - Харків.- 2011.- 544 с.

Гиллемин Е. А. Синтез пассивных цепей.-М.: Связь,1970.-720с.

Пархомей І. Р. Щодо можливості використання концентрованого резонансного електромагнітного поля. / І. Р. Пархомей//Зб. наук. пр. «Труди академії»., -: К. НАОУ, 2005р.-№ 61, с.102-108.

Пархомей І. Р. Методи підвищення ефективності локації цілей зі штучно зниженою ефективною площею віддзеркалення. / І. Р. Пархомей// Зб. наук.пр. «Труди академії»., -: К. НАОУ, 2005р. - № 66, с. 83-92.

##submission.downloads##

Опубліковано

2018-09-21